金鉴李工:电子背散射衍射(EBSD)分析基础—晶粒取向
综上所述，晶粒取向是电子背散射衍射分析中的基础概念，涉及晶体的结构、织构以及取向的表示方法等多个方面。
晶体：物质构成微粒在三维空间按有规律的周期性重复排列形成的物质，具有各向异性，如冰、食盐和金属。单晶体：宏观上整块晶体按特定模式排列，保持各向异性，如单晶硅。多晶体：宏观上由许多晶粒组成，晶粒空间点阵相同但取向不同，常见金属。
晶体是物质的构成微粒在三维空间有规律周期性排列形成的物质，具有各向异性，如冰、食盐、金属等。金鉴实验室利用EBSD技术解析材料晶粒取向，优化材料性能。晶体分为单晶与多晶，前者整体晶格按特定模式排列，后者由多个取向不同的晶粒构成。
晶体：物质的构成微粒在三维空间中规律性周期排列形成的物质。晶体具有各向异性，物理性质在不同方向上有所不同。晶体广泛存在于自然界，如冰、食盐以及金属。单晶体由单一晶粒构成，保持各向异性，而多晶体由多个晶粒组成，其排列决定材料宏观性质。
织构极图的密度是什么
1、织构极图的密度是晶面上的结构。这些某些晶粒在这些晶面上有比较明显的取向，在极图上表现出来的密度就会较高，也就是说具有明显的织构。
2、极点密度。极图的密度是极点密度，试探、旋转对比，使标准极图中某晶向的各极点均落在被测极图强极密度区内，从而确定织构组分。
3、极图和反极图的局限性促使人们采用空间取向分布函数（ODF）描述整个空间的取向分布。ODF由极图极密度分布计算得出，表示为g（φ1，Φ，φ2）的分布密度f（g）。工业纯铝经95%形变量冷轧后的ODF图即为ODF的一个实例。
4、织构一般用 X射线衍射法测定的极图表示。常用的有二种形式：第一种为正极图，它是一种对于材料中某一选定的低指数（h k l）面，表明其极点密度随极点取向而变化的极射赤平投影图。图2为冷轧 08Al钢板的极图。
5、用极图来标定织构时，把它叠在单晶标准投影图上面，把极图上极密度大的区域对准标准投影图上的相应的 （hkl） 极点，然后定出板织构，如测绘出的 （200） 极图，那么这个极图上所有 （200） 极点密度分布就表示了织构状况。
用XRD来分析织构不知道怎么测试和怎么分析啊?
XRD是可以分析宏观织构的。对于变形态的合金，就是用XRD衍射仪获取极密度数据计算得极图，XRD衍射仪自带的软件可以通过数据作出ODF、极图、反极图。比如，挤压态，做的时候对于垂直于挤压方向的界面可以得到环形极图，可以看出织构强度。
一般情况下，形成的晶粒晶轴在各个方向上分布的机会是均等的，在做XRD时，不同的晶面间距形成不同的衍射峰，因为晶面上原子分布、不同原子衍射能力存在差异等原因，各个衍射峰强度存在差异。\r\n如果存在择优取向，作出来的曲线和标准曲线有差异，某些峰会变强，某些峰会变弱。
XRD谱图信息：衍射峰位置：用于物相鉴定、晶胞参数修正和残余应力测量。衍射峰强度：主要应用于物相含量、结晶度和织构的计算，是定量分析的重点。衍射峰形状：包括峰的宽度和峰形的对称性。
定量分析通过峰面积计算。XRD物相鉴定基于与标准谱图的对比，通过三强峰峰位、峰强及样品元素进行判断。Jade软件是进行物相检索的有效工具，根据化学成分、元素信息进行无条件、限定元素或单峰检索，利用FOM值排序结果，最后双击搜索出的物相查看PDF卡片以获得晶面指数、2-theta等信息。
首先，XRD图谱中的峰位置（晶格常数）可以鉴别物质，峰宽与结晶度相关，峰高则体现取向度和织构。峰的面积和相对高度，如峰高A/C与标准图谱对比，可推断择优取向和晶粒大小。定性分析主要通过与标准pdf卡片的八强峰匹配，确定样品的物相组成，如无定型与晶体的区别，以及结晶度的高低。
极图的密度是什么
极点密度。极图的密度是极点密度，试探、旋转对比，使标准极图中某晶向的各极点均落在被测极图强极密度区内，从而确定织构组分。
织构极图的密度是晶面上的结构。这些某些晶粒在这些晶面上有比较明显的取向，在极图上表现出来的密度就会较高，也就是说具有明显的织构。
极图和反极图的局限性促使人们采用空间取向分布函数（ODF）描述整个空间的取向分布。ODF由极图极密度分布计算得出，表示为g（φ1，Φ，φ2）的分布密度f（g）。工业纯铝经95%形变量冷轧后的ODF图即为ODF的一个实例。
常用的有二种形式：第一种为正极图，它是一种对于材料中某一选定的低指数（h k l）面，表明其极点密度随极点取向而变化的极射赤平投影图。图2为冷轧 08Al钢板的极图。
数字表示方法：密勒指数、欧拉角。图形表示方法：极图、反极图、取向分布函数。极图：描绘织构空间取向的极射赤面投影图，表示晶面极点在坐标上分布。反极图：试样外观方向在晶体学坐标中的分布投影，以外观方向命名。取向分布函数：用分布密度表达整个空间的取向分布，提供三维空间的取向描述。
极图描绘织构空间取向的极射赤面投影图，表示晶面极点在坐标上的分布。反极图是试样外观方向在晶体学坐标中的分布投影，以外观方向命名。取向分布函数用分布密度表达整个空间的取向分布，提供三维空间的取向描述。